台式X荧光光谱仪凭借其快速、无损、多元素同步检测的优势，广泛应用于地质、冶金、环保等领域。样品制备作为检测流程的重要环节，直接影响光谱信号的准确性和稳定性。合理的制备方法需兼顾样品均匀性、表面平整度及基体效应控制，以适配仪器对样品形态的严格要求。
对于粉末状样品，需通过研磨与压片实现均匀化处理。研磨时需选用玛瑙研钵或碳化钨磨具，避免金属工具引入污染。以土壤样品检测为例，需将风干后的土样过200目筛，去除颗粒大于0.074毫米的杂质，防止大颗粒导致光谱信号波动。压片环节需控制压力与保压时间，通常使用液压机以20-30吨压力压制30秒，形成厚度1-5毫米、表面光滑的圆片。若样品含水量过高，需预先进行低温烘干处理，防止压片时水分蒸发导致开裂。
块状样品的制备需注重表面平整度与清洁度。金属样品需通过车削、铣削或砂纸打磨去除氧化层，露出新鲜金属面。例如铝合金检测中，需使用400目至800目砂纸逐级打磨，蕞终表面粗糙度Ra值应小于1.6微米。非金属块材如陶瓷、玻璃，则需采用金刚石切割片进行精密切割，确保切割面垂直度偏差小于0.5度。所有块状样品检测前均需用无水乙醇超声清洗5分钟，去除油污、指纹等有机污染物。
液体样品的制备需解决挥发与分层问题。油品检测时，需将样品置于恒温40℃环境中静置2小时，待气泡完全逸出后，取中层清液注入专用塑料比色皿。水溶液样品则需添加0.1%硝酸进行酸化处理，防止金属元素沉淀，同时使用聚乙烯薄膜密封比色皿顶部，避免检测过程中溶液挥发导致浓度变化。对于高盐度样品，还需通过离心分离去除悬浮颗粒，确保光谱基线稳定。
样品制备完成后，需放置于干燥器中恒温保存2小时，使表面温度与仪器环境温度平衡，减少热胀冷缩对检测结果的影响。整个制备流程通过标准化操作，可有效降低基体效应干扰，为X荧光光谱仪提供理想的检测条件。